Autor: Rafaél Ígor Fritz (Currículo Lattes)
Resumo
A evolucão dos sistemas computacionais embarcados tem tornado os chips mais complexos e com elevado n´umero de funcionalidades em um mesmo circuito integrado (CI). Em contrapartida, o custo final de mercado tem diminu´do significativamente em relação à maior complexidade do CI. À medida que as dimensões e as tensões de operação da microeletrônica de computadores são reduzidas para satisfazer a demanda insaciável do consumidor, a sensibilidade à radiação desses circuitos aumentam. As partículas ionizantes, ao incidirem em uma região sensível de um semicondutor, como as áreas ativas dos transistores, podem causar um pulso transiente, que, por sua vez, pode alterar o estado lógico do circuito. O desenvolvimento da indústria de semicondutores possibilitou o desenvolvimento de sistemas eletrônicos complexos. Hoje em dia, sistemas como satélites e sistemas aviônicos requerem alto grau de confiabilidade. Com a existência de sistemas que necessitam de um alto grau de confiabilidade, faz-se necessário ferramentas de projeto que possibilitem determinar a confiabilidade dos circuitos. Nesse trabalho, foi implementado o método de Matriz de Transferência Probabilística (PTM), que possibilita determinar a confiabilidade de circuitos. A ferramenta desenvolvida possibilitou a realização do cálculo da confiabilidade de circuitos lógicos combinacionais a partir da leitura do arquivo de descrição de hardware (Netlist) de um circuito.