Autor: Alvaro Luis Pianalto de Freitas (Currículo Lattes)
Resumo
Os atuais perfis de consumo impõem às indústrias de manufatura um grande desafio, que é manterem-se competitivas dentro de uma concorrência acirrada pela preferência de clientes ávidos por novos produtos. Entre as soluções necessárias para esta realidade está o aumento do nível de automação nas linhas de produção, de modo a torna-las flexíveis, ágeis e rápidas na sua configuração/reconfiguração, seguras e também confiáveis na execução e controle dos processos produtivos. Outro fator a ser considerado é o aumento do número de componentes das plantas industriais, assim como a quantidade de informações por eles geradas, sendo que grande parte dessas informações são originadas por sensores, hoje difundidos em larga escala, sendo comumente empregados em conjunto para medir um mesmo fenômeno de um processo produtivo. Neste tipo de aplicação exige-se a fusão dos dados medidos a fim de fornecer uma única informação, precisa e confiável ao sistema de controle da planta. Esse panorama traz um crescimento do nível de complexidade da planta em si, como também dos sistemas de software responsáveis pelo seu controle. Sendo assim, neste trabalho é proposta uma ontologia com a finalidade de representar o conhecimento sobre os componentes de plantas industriais que fazem parte da estrutura física onde a fusão de sensores é empregada. Além disso, outra finalidade é a identificação das divergências de dados entre sensores quando utilizados de forma combinada no controle de processos industriais. Este conhecimento, que é agregado as capacidades dedutivas de um motor de inferência semântica, pode ser usado no apoio aos sistemas supervisão e controle de automação empregados nas indústrias. Para isso, juntamente com a ontologia foram desenvolvidas regras semânticas que asseguraram o funcionamento lógico das restrições no domínio estudado. Como resultado, esta ontologia é capaz de informar automaticamente ao usuário a existência de fusão de sensores, bem como identificar as possíveis divergências de valores nas medições dos sensores envolvidos neste tipo de aplicação.