Autor: Gabriel Soares Porto (Currículo Lattes)
Resumo
O processo de teste de circuitos integrados tem grande importância para detectar possíveis erros gerados por sistemas digitais, especialmente quando se trata de aplicações críticas como em sistemas médicos e aeroespaciais. Ao longo dos anos, o avanço tecnológico inspirado pela Lei de Moore contribuiu para que a miniaturização afetasse diretamente a densidade dos circuitos integrados, bem como sua complexidade, tornando-os mais propensos a falhas e mais difíceis de serem testados. Para atender essa demanda, foram propostos meios para facilitar o teste, tais como técnicas de projeto para Testabilidade e ferramentas como ATPG (Automatic Test Pattern Generation), que é o foco deste trabalho. Ferramentas ATPG têm como objetivo gerar um conjunto reduzido de padrões de teste que possuam uma alta taxa de cobertura de falhas em tempo de execução hábil. Atualmente, há dois principais métodos ATPG: métodos estruturais e métodos baseados em SAT (Método de Satisfatibilidade Booleana). Os métodos estruturais executam uma análise topológica sobre o circuito, ao passo que métodos baseados em SAT apresentam uma abordagem algébrica e funcional, analisando o circuito por meio de expressões booleanas. Os métodos estruturais são ótimos na geração de padrões de teste para falhas fáceis de testar (easy-to-test faults); por outro lado, os métodos baseados em SAT são bons na geração de padrões de teste para falhas difíceis de testar (hard-to-test faults). Métodos híbridos buscam a composição e a interação entre variados métodos ATPG. Desse modo, o presente trabalho tem por objetivo dissertar sobre a área de teste e a implementação e análise de métodos ATPG híbridos, com o intuito de difundir mais a relevância das mesmas. Levando em consideração as características de cada método e uma boa estruturação, os resultados deste trabalho apresentaram metodologias híbridas que conseguem reduzir o tempo de execução em até 90%, mantendo um equilíbrio em outros fatores, tais como cobertura de falhas e conjunto de padrões de teste.