Autor: Artur Freitas Arocha (Currículo Lattes)
Resumo
A garantia do desempenho, da acurácia e dos baixos custos na produção em larga escala de circuitos integrados (CI) é influenciada pelo teste, sendo essa uma rotina crucial no processo de desenvolvimento de CIs. As métricas de testabilidade permitem melhorias no projeto de CIs. Durante o estudo das métricas de testabilidade no método SCOAP pelo autor, foi observada a falta de uma metodologia padrão para obtenção das equações para cálculo da controlabilidade e observabilidade para uma função lógica qualquer. Deste modo, este trabalho apresenta uma metodologia para obtenção destas equações para qualquer função lógica. A comparação dos resultados obtidos com os disponíveis na literatura mostrou que os objetivos parciais foram alcançados. Além disso, foi desenvolvido um software para automatizar a obtenção das métricas de testabilidade em circuitos com os métodos CAMELOT e SCOAP. Ambos métodos se mostraram eficazes para apontar topologias de CIs melhor projetadas com foco na testabilidade.